射頻導納技術主要通過檢測物質的介電常數和電導率實現液位檢測的。當被測介質的電導率較大時，電容式產品會由于被測介質粘附在傳感器上而產生誤差。但導納式產品通過同時檢測電容和電阻可以消除這種誤差。射頻導納物位開關僅能用于介電常數≥1.6的物位測量，所以測量介質應具有一定的介電常數。射頻導納物位開關為接觸性測量，故被測物料不能過大，以免射頻導納探頭被砸彎損壞，所以其不適合用于密度和顆粒較大介質的測量。在測量非導電性介質時，應盡量選用帶有絕緣層的探頭，以防介質中混進腐蝕性物質，腐蝕測量探頭。對于絕緣式探頭，應考慮介質的溫度與壓力影響。但溫度與壓力有一個對應的曲線范圍，不在曲線范圍內工作則介質會破壞絕緣層，使介質通過絕緣層滲透到探桿處結晶，影響測量結果。另外，在直徑較大的非導電介質容器中，為提高測量的靈敏度和準確度，可選用帶輔助電極的探頭，或者將射頻導納料位開關盡量安裝在容器的邊緣。如果物料的黏度較高時，物料在探桿與接地管參考電極之間的流動速度會受到限制，使得管中物位不能真正代表罐中的實際物位，此時在選用射頻導納料位開關時應慎重。射頻導納料位開關是點位接觸式測量，在安裝位置確定的情況下，需要根據罐體的情況選擇合適的插入深度及保護極長度。插入深度是儀表能否精準測量物位的關鍵，一般以探頭能完全接觸到物料為宜，插入深度的長短也取決于儀表是否會受物料沖擊的影響、損壞等等。